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MIKRON M310 黑體爐—紅外熱像儀溫度校準方法研究
來源: | 作者:上海明策 | 發(fā)布時間: 2025-06-12 | 60 次瀏覽 | 分享到:

MIKRON M310 黑體爐在紅外熱像儀中的校準方法研究

摘要

紅外熱成像系統(tǒng)廣泛應用于航空航天、材料檢測及高溫場測量等領(lǐng)域,其測溫精度直接影響到實驗結(jié)論的可靠性。本文以 MIKRON M310 黑體爐為標準輻射源,對 FLIR A655 紅外熱像儀進行低溫段(50°C–300°C)的校準,通過理論模型與實驗結(jié)果對比,驗證了熱像儀在該溫區(qū)內(nèi)的測量準確性,并為后續(xù)高溫測量提供了基礎(chǔ)參考。


1. 引言

紅外熱像儀作為非接觸式溫度測量工具,測量精度受到多個因素影響,其中系統(tǒng)校準至關(guān)重要。黑體爐作為理想的熱輻射源,在紅外系統(tǒng)標定中被廣泛使用。MIKRON M310 黑體爐提供穩(wěn)定、可控的低溫紅外輻射,為熱像儀的校準提供可靠依據(jù)。


2. 校準設(shè)備與參數(shù)設(shè)置

設(shè)備名稱參數(shù)及用途
MIKRON M310溫度范圍:5–450°C,發(fā)射率:ε = 0.995(近黑體)
FLIR A655 熱像儀中波紅外成像(MWIR),響應波段為 1–5 μm
采集軟件FLIR ResearchIR Max,用于圖像與信號提取

實驗環(huán)境控制參數(shù)如下:

  • 相對濕度:50%

  • 環(huán)境溫度:20°C

  • 相機與黑體距離:60 cm

  • 采樣頻率:6.25 fps

  • 每幀采集時間:160 ms

3. 校準方法與步驟

3.1 黑體溫度設(shè)定與穩(wěn)定

將 MIKRON M310 設(shè)置為一系列固定溫度點,如 50°C、100°C、150°C、200°C、250°C、300°C。待溫度穩(wěn)定后,啟動采集系統(tǒng)。

3.2 紅外圖像采集

將熱像儀對準黑體輻射面,在軟件中選定輻射均勻區(qū)域(如圖中藍色圓形區(qū)域),實時采集熱圖像。

3.3 提取平均輻射信號

使用 FLIR 軟件提取目標區(qū)域的平均數(shù)字信號值(Object Signal,OSmed),即熱像儀內(nèi)部系統(tǒng)輸出的灰度值,代表該區(qū)域的紅外輻射強度。

3.4 理論熱信號計算

基于 Planck 定律,并結(jié)合傳感器響應 Rt(λ)、光學系統(tǒng)透過率 Rot(λ) 及濾波器透過率 F(λ),計算理想黑體在相應溫度下的輻射強度 Gtheory(T):

G(T)=λ1λ2ε?Rt(λ)?Ropt(λ)?F(λ)?C1λ5(eC2λT?1)dλG(T) = int_{lambda_1}^{lambda_2} varepsilon cdot R_t(lambda) cdot R_{opt}(lambda) cdot F(lambda) cdot frac{C_1}{lambda^5 left( e^{frac{C_2}{lambda T}} - 1 right)} dlambda

其中:

  • ε=0.995varepsilon = 0.995(MIKRON M310 的近黑體特性)

  • C1C_1、C2C_2:普朗克常數(shù)項

3.5 模型驗證與擬合

將每一組溫度對應的 OSmed 與理論熱信號 G(T) 對比(見圖 15),并進行誤差分析:

誤差=OSmedexp?GtheoryGtheorytext{誤差} = frac{|OS_{text{med}}^{text{exp}} - G_{text{theory}}|}{G_{text{theory}}}

當誤差控制在 2% 以內(nèi),說明紅外熱像儀輸出與理論模型吻合良好,校準有效。


4. 校準結(jié)果與分析

校準結(jié)果顯示,F(xiàn)LIR A655 在 MIKRON M310 提供的 50–300°C 范圍內(nèi),其數(shù)字信號與理論熱信號之間呈良好線性關(guān)系,驗證了儀器響應模型的準確性。該過程為高溫段校準(如使用 MIKRON M305/M390)提供了可擴展基礎(chǔ)。

5. 結(jié)論

通過使用 MIKRON M310 黑體爐建立紅外熱像儀在低溫段的溫度-信號映射關(guān)系,不僅提高了測量精度,也為后續(xù)開展高溫實驗提供了理論支持和實驗保障。此方法適用于所有需高精度紅外測溫的研究與工程應用場景。