MIKRON M310 黑體爐在紅外熱像儀中的校準方法研究
紅外熱成像系統(tǒng)廣泛應用于航空航天、材料檢測及高溫場測量等領(lǐng)域,其測溫精度直接影響到實驗結(jié)論的可靠性。本文以 MIKRON M310 黑體爐為標準輻射源,對 FLIR A655 紅外熱像儀進行低溫段(50°C–300°C)的校準,通過理論模型與實驗結(jié)果對比,驗證了熱像儀在該溫區(qū)內(nèi)的測量準確性,并為后續(xù)高溫測量提供了基礎(chǔ)參考。
紅外熱像儀作為非接觸式溫度測量工具,測量精度受到多個因素影響,其中系統(tǒng)校準至關(guān)重要。黑體爐作為理想的熱輻射源,在紅外系統(tǒng)標定中被廣泛使用。MIKRON M310 黑體爐提供穩(wěn)定、可控的低溫紅外輻射,為熱像儀的校準提供可靠依據(jù)。
設(shè)備名稱 | 參數(shù)及用途 |
---|---|
MIKRON M310 | 溫度范圍:5–450°C,發(fā)射率:ε = 0.995(近黑體) |
FLIR A655 熱像儀 | 中波紅外成像(MWIR),響應波段為 1–5 μm |
采集軟件 | FLIR ResearchIR Max,用于圖像與信號提取 |
實驗環(huán)境控制參數(shù)如下:
相對濕度:50%
環(huán)境溫度:20°C
相機與黑體距離:60 cm
采樣頻率:6.25 fps
每幀采集時間:160 ms
將 MIKRON M310 設(shè)置為一系列固定溫度點,如 50°C、100°C、150°C、200°C、250°C、300°C。待溫度穩(wěn)定后,啟動采集系統(tǒng)。
將熱像儀對準黑體輻射面,在軟件中選定輻射均勻區(qū)域(如圖中藍色圓形區(qū)域),實時采集熱圖像。
使用 FLIR 軟件提取目標區(qū)域的平均數(shù)字信號值(Object Signal,OSmed),即熱像儀內(nèi)部系統(tǒng)輸出的灰度值,代表該區(qū)域的紅外輻射強度。
基于 Planck 定律,并結(jié)合傳感器響應 Rt(λ)、光學系統(tǒng)透過率 Rot(λ) 及濾波器透過率 F(λ),計算理想黑體在相應溫度下的輻射強度 Gtheory(T):
其中:
(MIKRON M310 的近黑體特性)
、:普朗克常數(shù)項
將每一組溫度對應的 OSmed 與理論熱信號 G(T) 對比(見圖 15),并進行誤差分析:
當誤差控制在 2% 以內(nèi),說明紅外熱像儀輸出與理論模型吻合良好,校準有效。
校準結(jié)果顯示,F(xiàn)LIR A655 在 MIKRON M310 提供的 50–300°C 范圍內(nèi),其數(shù)字信號與理論熱信號之間呈良好線性關(guān)系,驗證了儀器響應模型的準確性。該過程為高溫段校準(如使用 MIKRON M305/M390)提供了可擴展基礎(chǔ)。
通過使用 MIKRON M310 黑體爐建立紅外熱像儀在低溫段的溫度-信號映射關(guān)系,不僅提高了測量精度,也為后續(xù)開展高溫實驗提供了理論支持和實驗保障。此方法適用于所有需高精度紅外測溫的研究與工程應用場景。